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MATS-3123SA軟磁材料動(dòng)態(tài)測量裝置

      MATS-3123SA/3M軟磁材料動(dòng)態(tài)測量裝置可自動(dòng)測量鐵硅鋁、鐵鋁、軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶/納米晶和硅鋼等軟磁材料在10Hz~3MHz(連續(xù)頻率)條件下的交流磁性參數(shù):Ps、Bm、Hm、Ss,μa、δ、Br和Hc,可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等動(dòng)態(tài)磁特性參數(shù);
      測試系統(tǒng)采用數(shù)字信號(hào)合成及處理技術(shù), 由高速寬頻帶雙極性功率放大器、高精密寬頻功率分析儀、自動(dòng)功率調(diào)整模塊和工控計(jì)算機(jī)組成自動(dòng)測試系統(tǒng), 配置MATS磁性材料自動(dòng)測試系統(tǒng)V7.0——SMTest軟磁動(dòng)態(tài)測量軟件,可實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜的磁特性測試以及數(shù)據(jù)管理; 
      MATS-3123SA/3M軟磁材料動(dòng)態(tài)測量裝置加載自動(dòng)功率調(diào)整模塊,最大勵(lì)磁功率可達(dá)到500VA,實(shí)現(xiàn)了寬頻帶、高功率,較好的解決了高頻條件下試樣制備要求高,測試范圍窄的問題;
      系統(tǒng)設(shè)計(jì)符合GB/T3658-2008、GB/T19346.1-2017、SJ20966-2006、IEC60404-6等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求
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測試項(xiàng)目
1.測試樣品種類:可測試非晶/納米晶、硅鋼、坡莫合金金屬磁粉芯和軟磁鐵氧體等軟磁材料。
2.測試樣品形狀:可測試樣品包括塊體、粉體、條帶等制備的磁環(huán)樣品。直接在樣品上繞制勵(lì)磁(N1)和感應(yīng)(N2)線圈測量環(huán)形、矩形、EE形和EI形等閉路樣品。
3.測試參數(shù):測量軟磁材料在50Hz~3MHz(連續(xù)頻率)條件下的磁滯回線和動(dòng)態(tài)磁性參數(shù),可準(zhǔn)確測量μa、δ、Ps、Br和Hc,可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等動(dòng)態(tài)磁性參數(shù)。




設(shè)備特點(diǎn)
1.采用計(jì)算機(jī)控制的數(shù)字化電源和標(biāo)準(zhǔn)功率表,整個(gè)測試過程自動(dòng)完成。
2.測試樣品具有閉合磁路的結(jié)構(gòu),直接在樣品上繞線測量;樣品、磁化線圈(N1)、測量線圈(N2)共同組成空載變壓器。
3.磁化線圈回路與標(biāo)準(zhǔn)功率表的電流端串聯(lián),通過讀取功率表的電流峰值得到磁場峰值。
4.測量線圈接到標(biāo)準(zhǔn)功率表的電壓輸入端,通過讀取功率表的電壓有效值來計(jì)算磁感應(yīng)強(qiáng)度的峰值。
5.采用自動(dòng)功率調(diào)整技術(shù),最大勵(lì)磁功率可達(dá)到500VA,實(shí)現(xiàn)了寬頻帶、高功率,較好的解決了高頻條件下試樣制備要求高,測試范圍窄的問題。
⒍采用伏安法和數(shù)字積分法測量動(dòng)態(tài)磁滯回線、比總損耗Ps、磁感應(yīng)強(qiáng)度Bm、磁場強(qiáng)度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導(dǎo)率μa、損耗角δ、剩磁Br和矯頑力Hc等動(dòng)態(tài)磁特性參數(shù),并推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等。
7.輸出參數(shù)包括不同頻率下的矯頑力、給定磁場下的相對磁導(dǎo)率、鐵磁損耗、剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度;
8.兼容磁導(dǎo)計(jì)、愛潑斯坦方圈等軟磁材料常用測試組件。
9.H 軸測量精度≤0.1 A/m,誤差< 2%真實(shí)值。
10.勵(lì)磁磁場最大可達(dá)到 1200 A/m(含功率放大器時(shí))。
11.測試磁粉芯(相對磁導(dǎo)率約 30)時(shí)滿足 1 MHz 以上最大磁感達(dá)到 50 mT 以上。
12.測試磁粉芯(相對磁導(dǎo)率約 30)時(shí)滿足 100 kHz 以上最大磁感達(dá)到 200 mT 以上。
13.測試鐵基非晶/納米晶帶材(飽和磁感 1.6 T 以上、相對磁導(dǎo)率 1000 及以上), 包括愛潑斯坦方圈法和磁環(huán),時(shí)滿足 10 kHz 最大磁感達(dá)到 1.5 T 以上。




技術(shù)參數(shù)

1.使用環(huán)境
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
輸入電源 單相220V,50Hz
使用環(huán)境 環(huán)境溫度:23±5℃;環(huán)境濕度:30~75%RH
外磁場干擾 應(yīng)絕對避免
熱平衡時(shí)間 10分鐘
 
2.硬件參數(shù)
2.1.信號(hào)發(fā)生器
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
頻率帶寬 10〜3MHz;頻率步進(jìn):1Hz
頻率精度 < 0.1%×當(dāng)前值;頻率誤差< 0.05%
電壓精度 1mV (程控,鎖Bm測試時(shí));
電壓失真度 <0.5%
 
2.2.高速寬頻帶雙極性功率放大器
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
獨(dú)立輸出 加配自動(dòng)功率模塊輸出 加配自動(dòng)功率模塊輸出
最大輸出功率(有效值) 50VA 500VA(10k-500kHZ:500VA;500kHZ-1MHZ:400VA) 100VA
頻率帶寬 10Hz-3MHz 10kHz-1MHz 10KHz-3MHz
最大輸出電壓(有效值) 50Vrms 50Vrms 100Vrms
最大輸出電流(有效值) ±1Arms ±10Arms ±1Arms
 
2.3.高精密寬頻功率分析儀(10-1MHZ)
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
頻率測量范圍 DC〜1MHz;
電流測量范圍 1uA~15A (峰值);
電壓測量范圍 1mV~1000Vrms(有效值);
電壓、電流測量精度(Bm、Hm) 10-250kHZ:±0.1%RD+0.1%RG;
250K-500kHZ:±0.1%RD+0.2%RG;
500K-1000kHZ:±0.4%RD+0.4%RG;
功率測量精度(損耗) 10-250kHZ:±0.2%RD+0.1%RG;
250K-500kHZ:±0.4%RD+0.2%RG;
500K-1000kHZ:±0.8%RD+0.4%RG;
其中:RD代表讀數(shù),RG代表量程
 
2.4.高精密寬頻功率分析儀(10KHZ-3MHZ)
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
頻率測量范圍 10K〜3MHz;
電流量程范圍 5mA~7.5A (峰值);
電壓測量范圍 3V~1000Vrms(有效值);
電壓、電流測量精度(Bm、Hm) 10k-100kHZ:±0.2%RD+0.4%RG;
100K-1MHZ:±0.5%RD+1%RG;
1M-3MHZ:±1.5%RD+2%RG;
功率測量精度 10k-100kHZ:±0.32%RD+0.4%RG;
100K-1MHZ:±0.8%RD+1%RG;

 
其中:RD代表讀數(shù),RG代表量程峰峰值
 
2.5.愛潑斯坦方圈(非標(biāo)1)
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
兼容性 與 B-H 磁滯回線分析儀端口配套
頻率范圍  50 Hz - 10 kHz 條帶樣品測試
樣品尺寸  5 × 100 mm
勵(lì)磁能力 非晶/納米晶條帶樣品至 1.5 T
磁路長度誤差 小于 2%
補(bǔ)償程序 根據(jù)方圈參數(shù)集成配套數(shù)據(jù)處理及誤差
 
2.6.愛潑斯坦方圈(非標(biāo)2)
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
兼容性 與 B-H 磁滯回線分析儀端口配套
頻率范圍  50 Hz - 10 kHz 條帶樣品測試
樣品尺寸  10× 100 mm
勵(lì)磁能力 非晶/納米晶條帶樣品至 1.5 T
磁路長度誤差 小于 2%
補(bǔ)償程序 根據(jù)方圈參數(shù)集成配套數(shù)據(jù)處理及誤差
 
2.7.磁導(dǎo)率測試組件
參數(shù) 技術(shù)指標(biāo)
配套主機(jī) WAYNE KERR 6500B 阻抗分析儀
屏蔽效果 螺線管內(nèi)置在磁屏蔽裝置中,磁屏蔽效能應(yīng)保證樣品沿空間不同方向放置時(shí),磁導(dǎo)率偏差小于±5%;
樣品尺寸 寬度 5 mm 的長直條帶
開路修正 具備開路磁導(dǎo)率修正系數(shù),用于修正開路測量引起的偏差 
 

SMTest測量軟件


⒈運(yùn)行環(huán)境:SMTest測量軟件運(yùn)行于Windows操作系統(tǒng)下,操作簡捷。
⒉ 系統(tǒng)語言:中文。
⒊有多種單位制式可選,以保證不同用戶各自的使用習(xí)慣。
⒋支持環(huán)形、EE、EI、CD、矩形、雙孔、BS和其它等各種形狀樣
品參數(shù)的輸入。
⒌可根據(jù)樣品外形尺寸計(jì)算樣品的有效截面積和有效磁路長度。
⒍支持固定頻率、固定Bm或固定Hm等多種測量模式。
⒎支持一次設(shè)置多組測量條件,可同時(shí)設(shè)置固定頻率、固定Bm和固定Hm等測量模式,一鍵完成多條件測試。
⒏每組一次設(shè)置1~100個(gè)測試點(diǎn),支持批量快速設(shè)置。
⒐設(shè)置的測量條件保存到“保存的測量條件”,無需重復(fù)設(shè)備測量條件。
⒑實(shí)時(shí)顯示I(t)、U(t)、B(t)采樣波形,可顯示曲線上每一個(gè)數(shù)
據(jù)點(diǎn)的坐標(biāo)信息。
⒒可顯示B(H)磁化曲線、B(H)磁滯回線或μ(H)磁導(dǎo)率曲線,并可顯示曲線上每一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的坐標(biāo)信息。
⒓文件系統(tǒng)采用數(shù)據(jù)庫格式,可輸出測試結(jié)果到Excel表格中。
⒔測試數(shù)據(jù)自動(dòng)保存,支持歷史數(shù)據(jù)查詢、調(diào)入和刪除。



測試案例